Microscope à force atomique (AFM) Oxford Instruments MFP-3D Origin+
Traduit de l'anglais
Devis sur demande
L'AFM Oxford Instruments MFP-3D Origin+ offre des capacités de caractérisation de surface à haute résolution, permettant l'analyse détaillée de la topographie de surface, des propriétés mécaniques et du comportement des matériaux à l'échelle nanométrique. Cet instrument est essentiel pour les études nécessitant des mesures et des manipulations précises de surface.
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